评估Si,GaAs,SiC和GaN衬底血管小信号模型参数的分析方法考虑到性能参数
抽象的:
在过去的十年里,人们对高电子迁移率晶体管(hemt)的发展进行了几次尝试。本文分析了AIN/GaN/AlGaN双异质结构HEMTs的小信号模型。本文提出了一种改进的、适用于毫米波应用的HEMTs参数提取方法。给出了传输过程中损耗的不同性能参数及其随频率的变化。对不同装置进行了适当的稳定性比较。在室温和最大跨导的特定偏置点(VttS=1.0V,VDS=10V)下,测量了频率范围为0.1ghz~40ghz的散射参数(透射和反射系数)。同时考虑了S参数的所有虚部和实部以及阻抗参数。完整的行为和设备承受提到的频率提出。通过S参数估计来评估执行情况,利用去嵌入方法来评估SSM拓扑中包含的器件的内在和外在参数。提出并验证了完整的分析方法。将实验值与模拟值进行了比较,结果表明两者具有很好的一致性。
关键词:
高电子迁移率晶体管,碳化硅,硅,砷化镓,AlGaN/GaN,小信号建模,参数提取,半导体器件测量。